Thin film etchants
Request a sampleTransene products find extensive use in semiconductor microelectronics and offers a large range of thin film etchants including Al, Al2O3, BOE, Cr, Cr-Si, Cr-SiO, Cu, GaAs, GaN, Ga2O3, GaP, Ge, Au, Hf, HfO, In2O3, ITO, InP, Fe2O3, Polyimide, MgO, Mo, Nb, NbN, NbO, Ni-Cr, Ni, Ni-V, Pd, Pd, Ru, Si, SiC, SiO2, SiO, Si3N4, Ag, Acier inox, Ta, Ta3N5, Ta2O5, TaSi, Sn, SnO, Ti, TiN, Ti-W, W, SnO
Have a question? Get in touchSolutions de gravure couches minces
Couche | Solution de gravure | Vitesse d'attaque | Résine recommandée | Application | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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Aluminium | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Al |
TYPE A |
30 Å/sec @ 25°C // 80 Å/sec @ 40°C |
Négative & Positive |
Semi-conducteur & Circuits intégrés, GaAs & GaP, AlSi |
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Al |
TYPE D |
40 Å/sec @ 25°C // 125 Å/sec @ 40°C |
Négative & Positive |
Semi-conducteur & Circuits intégrés, GaAs & GaP, AlSi |
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Al |
TYPE F |
30 Å/sec @ 25°C // 80 Å/sec @ 40°C |
Négative & Positive |
Semi-conducteur & Circuits intégrés, GaAs & GaP, AlSi |
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Al2O3 |
TRANSETCH N |
120 Å/min @ 180 °C |
SiO2 |
Semi-conducteur |
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Al2O3 |
Tantalum Etchant 111 |
20-30 Å/sec@20 °C |
Sapphire |
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BOE |
Buffered Oxide Etch |
Variable |
Négative |
Semi-conducteur & Circuits intégrés |
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Cr |
1020 |
40 Å/sec @40°C |
Négative & Positive |
Circuits couches minces, Masque Chrome |
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Cr |
1020 |
40 Å/sec @40°C |
Négative & Positive |
Circuits couches minces, Masque Chrome |
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Cr |
1020AC |
32 Å/sec @40 |
Négative & Positive |
Circuits couches minces, Masque Chrome |
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Cr-Si |
Chrome, Cermet TFE |
1000 Å/min @ 50 °C |
Négative |
Circuits couches minces |
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Cuivre | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Cu |
CE-100 |
1 mil/min @ 40 °C |
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Cu |
CE-200 |
0.5 mil/min @ 40 °C |
Positive & Négative |
Circuits couches minces |
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Cu |
APS-100 |
80 Å/sec @ 40 °C |
Positive & Négative |
Circuits couches minces |
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Cu |
Copper Etch 49-1 |
22 Å/sec @ 30 °C |
Positive & Négative |
Compatible Ni |
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Cu |
Copper Etch BTP |
150 Å/sec @30 °C |
Négative |
Compatible Ni |
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Gallium | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
GaAs |
GA ETCH 100 |
100 Å/sec @ 40 °C |
Négative |
Circuits micro-électronique |
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GaAs |
GA ETCH 200 |
20 Å/sec @ 5 °C |
Négative |
Circuits micro-électronique |
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GaAs |
GA ETCH 300 |
22 Å/sec @ 25 °C |
Négative |
Circuits micro-électronique |
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GaAs |
AB ETCH |
Defect Delineation |
Négative |
Tests semi-conducteurs |
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GaN |
Gallium Nitride |
80 A/min |
SiO2 |
LED |
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Ga2O3 |
Gallium Oxide |
10 Å/sec @ 25 °C |
Négative |
Circuits micro-électronique |
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GaP |
Gallium Phosphide |
A Face(Ga): 115 micron/hr @ 80 °C |
Négative |
LED |
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Ge |
Germanium |
250 Å/sec @ 20 °C |
Négative |
Semi-conducteurs |
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OR | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Au |
TFA |
28 Å/sec @ 25 °C |
Négative & Positive |
Circuits couches minces |
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Au |
TFAC |
30 Å/sec @ 60 °C |
Négative |
GaAs compatible |
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Au |
GE-8148 |
50 Å/sec @ 25 °C |
Négative & Positive |
Compatible Ni |
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Au |
GE-8110 |
15 Å/sec @ 25 °C |
Négative & Positive |
Compatible Ni |
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Au |
GE-8111 |
15 Å/sec @ 25 °C |
Négative & Positive |
Compatible Ni |
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Hf, HfO |
Hafnium, Hafnium Oxide |
45 Å/sec @ 25 °C, ALD HfO 7.5 Å/sec |
Négative |
Utiliser Titanium Etch TFT |
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In2O3 |
Indium Oxide |
15 Å/sec @ 25 °C |
Négative |
Circuits micro-électronique |
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InP |
Indium Phosphide |
30 mins @ 25 °C |
Négative |
Circuits micro-électronique |
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Fe2O3 |
Iron Oxide ME-10 |
50 Å/sec @ 25 °C |
Négative & Positive |
Circuits micro-électronique |
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Fe2O3 |
Iron Oxide ME-10 |
50 Å/sec @ 25 °C |
Négative & Positive |
Circuits micro-électronique |
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Fe2O3 |
Iron Oxide ME-30 |
25 Å/sec @ 25 °C |
Négative & Positive |
Circuits micro-électronique |
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Polyimide |
Kapton Polyimide Etchant |
0.013 mil/min @ 40 °C, 0.07 mil/min @ 60 °C |
Négative |
Polyimide/Stratifiés cuivrés |
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MgO |
Magnesium Oxide Etchant, MgOX12 |
40 Å/sec @ 30°C |
Négative & Positive |
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Mo |
Moly Etchant TFM |
55 Å/sec @ 30 °C, 85 Å/sec @ 60 °C |
Négative |
Circuits micro-électronique |
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Nb / NbN/ NbO |
Niobium, Niobium Nitride, Niobium Oxide |
50Å / sec @ 25 oC |
Négative |
Micro-électronique |
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Ni-Cr |
Nichrome Etchants TFN |
50 Å/sec @ 40 °C |
Négative & Positive |
Circuits couches minces |
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Nickel et alliages | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Ni |
TFB |
30 Å/sec @25 °C |
Négative & Positive |
Circuits couches minces |
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Ni |
TFG |
50 Å/sec @ 40 °C |
Négative & Positive |
Circuits couches minces |
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Ni |
Type I |
3 mil/hr @ 40 °C |
Négative & Positive |
Circuits couches minces |
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Ni-V |
Nickel-Vanadium Etch |
30 Å/sec @ 20 °C |
Négative & Positive |
Micro-électronique |
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Pd |
Palladium Etchants TFP |
110 Å/sec @ 50 °C |
Négative & Positive |
Semi-conducteur & Circuits couches minces |
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Pd |
Palladium Etchants EC |
Gravure électro-chimique |
Reagent semiconductor etchants (RSE)
Couche | Solution de gravure | Vitesse d'attaque | Résine recommndée | Application | |
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Ru |
RUTHENIUM ETCH |
20 Å/sec @ 20 °C |
Négative & Positive |
Micro-électronique |
Semiconductor delination etchants
Couche | Solution de gravure | Vitesse d'attaque | Résine recommndée | Application | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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Si |
SILICON MESA ETCH |
Variable |
KMER |
Semi-conducteur |
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Si |
REAGENT SEMICONDUCTOR ETCHANTS (RSE) |
Variable |
KMER |
Semi-conducteur |
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Si |
SILICON SLOW ETCH |
Variable |
PKP Type I |
Semi-conducteur |
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SILICON | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Si |
PSE 200 |
1 mil/3 min @ 100 °C |
Semi-conducteurs |
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Si |
PSE 300 |
25 m/hr @ 100 °C |
Semi-conducteurs |
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Cellules solaires | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Si |
SCE-200 |
1 hr @ 75-100 °C |
Cellules solaires |
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Si |
SCE-300 |
5-10 min @ 118 °C |
Cellules solaires |
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Si |
WRIGHT ETCHANT |
Defect Characterization |
N/A |
Tests semi-conducteurs |
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Si |
SIRTL ETCHANT |
Defect Characterization |
N/A |
Tests semi-conducteurs |
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SiC |
SILICON CARBIDE |
80 Å/min |
Négative |
LED |
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SiO2 |
BUFFER HF IMPROVED |
800Å/min @ 25 °C, Thermally Grown |
Négative |
Semi-conducteur & Circuits intégrés |
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SiO2 |
BD ETCHANT |
Variable |
Négative |
PSG/BSG |
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SiO2 |
TIMETCH |
90 Å/min @ 25 °C |
Négative |
CVD |
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SiO2 |
SILOX VAPOX III |
4000 Å/min @ 22 °C |
Négative |
CVD, Compatible Al |
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SiO2 |
AIPAD Etch 639 |
5000 Å/min |